Gold OA文章占比:6.42%
OA被引用占比:0
開源占比:0.0774
研究類文章占比:99.47%
國際標準簡稱:IEEE T INSTRUM MEAS
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《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》是一本專注于ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域的English學術期刊,創刊于1952年,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版,出版周期Bimonthly。該刊發文范圍涵蓋ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC等領域,旨在及時、準確、全面地報道國內外ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工作者在該領域的科學研究等工作中取得的經驗、科研成果、技術革新、學術動態等。該刊已被SCIE數據庫收錄,在中科院JCR最新升級版分區表中,該刊分區信息為大類學科工程技術2區,2023年影響因子為5.6。
Papers are sought that address innovative solutions to the development and use of electrical and electronic instruments and equipment to measure, monitor and/or record physical phenomena for the purpose of advancing measurement science, methods, functionality and applications. The scope of these papers may encompass: (1) theory, methodology, and practice of measurement; (2) design, development and evaluation of instrumentation and measurement systems and components used in generating, acquiring, conditioning and processing signals; (3) analysis, representation, display, and preservation of the information obtained from a set of measurements; and (4) scientific and technical support to establishment and maintenance of technical standards in the field of Instrumentation and Measurement.
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 2區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區 2區 | 是 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 2區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區 2區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 2區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區 2區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 3區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 3區 2區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 2區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區 2區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 2區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 | 2區 2區 | 否 | 否 |
中科院分區:中科院分區是SCI期刊分區的一種,是由中國科學院國家科學圖書館制定出來的分區。主要有兩個版本,即基礎版和升級版。2019年中國科學院文獻情報中心期刊分區表推出了升級版,實現了基礎版和升級版的并存過渡;升級版是對基礎版的延續和改進,將期刊由基礎版的13個學科擴展至18個,科研評價將更加明確。
按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 53 / 352 |
85.1%
|
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 9 / 76 |
88.8%
|
按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 52 / 354 |
85.45%
|
學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 7 / 76 |
91.45%
|
JCR分區:JCR(Journal Citation Reports)由科睿唯安公司(前身為湯森路透)開發。JCR沒有設置大類,只將期刊分為176個具體學科,也就是中科院分區中的小類學科。基于不同學科的當年影響因子高低進行排序,將期刊的數量均勻分為四個部分,Q1區代表學科分類中影響因子排名前25%的期刊,以此類推,Q2區為前25%-50%期刊,Q3區為前50%-75%期刊,Q4區為75%以后期刊。
CiteScore排名:
學科類別 | 分區 | 排名 | 百分位 |
大類:Physics and Astronomy 小類:Instrumentation | Q1 | 13 / 141 |
91%
|
大類:Physics and Astronomy 小類:Electrical and Electronic Engineering | Q1 | 114 / 797 |
85%
|
CiteScore值計算方式:例如2024公布的CiteScore是將統計在 2020年-2023年間年所發表文章的引用次數除以在 2020年-2023年間所發表的發文總數。
CiteScore數據來源:是由全球著名學術出版商Elsevier(愛思唯爾)基于其Scopus數據庫推出的期刊評價指標。CiteScore指數以四年區間為基準來計算每本期刊的平均被引用次數,并提供期刊領域排名、期刊分區的相關信息,它的作用是測量期刊的篇均影響力。
近年中科院分區趨勢圖
近年IF值(影響因子)趨勢圖
影響因子:是美國科學信息研究所(ISI)的期刊引證報告(JCR)中的一項數據。指的是某一期刊的文章在特定年份或時期被引用的頻率,是衡量學術期刊影響力的一個重要指標。自1975年以來,每年定期發布于“期刊引證報告”(JCR)。
國家/地區 | 發文量 |
CHINA MAINLAND | 696 |
Italy | 237 |
USA | 215 |
India | 144 |
England | 101 |
Canada | 92 |
GERMANY (FED REP GER) | 70 |
Spain | 53 |
South Korea | 47 |
Brazil | 38 |
文章引用名稱 | 引用次數 |
Automatic Defect Detection o... | 54 |
Intelligent Bearing Fault Di... | 53 |
Medical Image Fusion With Pa... | 43 |
Monitoring of Large-Area IoT... | 40 |
Vibration-Based Intelligent ... | 34 |
Deep Architecture for High-S... | 26 |
Highly Sensitive SPR Biosens... | 26 |
RideNN: A New Rider Optimiza... | 25 |
An Unsupervised-Learning-Bas... | 21 |
A CNN-Based Defect Inspectio... | 20 |
被引用期刊名稱 | 數量 |
IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
IEEE ACCESS | 940 |
SENSORS-BASEL | 761 |
IEEE SENS J | 555 |
MEASUREMENT | 390 |
ENERGIES | 245 |
APPL SCI-BASEL | 194 |
ELECTRONICS-SWITZ | 169 |
IEEE T IND ELECTRON | 149 |
MEAS SCI TECHNOL | 149 |
引用期刊名稱 | 數量 |
IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
IEEE SENS J | 265 |
IEEE T IND ELECTRON | 205 |
MEAS SCI TECHNOL | 203 |
SENSORS-BASEL | 177 |
IEEE T MICROW THEORY | 174 |
METROLOGIA | 167 |
IEEE T POWER DELIVER | 162 |
MEASUREMENT | 151 |
MECH SYST SIGNAL PR | 132 |
1、建議稿件控制10頁以上,文章撰寫語言為英語;(單欄格式,單倍行距,內容10號字體,文稿類型包含:原創研究(Original Research)、案例報告(Case Report)、文獻綜述(Literature Review)等;文件格式包含word、PDF、LaTeX等。
2、稿件重復率控制10%以內,論文務必保證原創性、圖標、公式、引文等要素齊備,保證附屬資料的完整。已發表或引用過度的文章將不會被出版和檢索,禁止一稿多投,拒絕抄襲、機械性的稿件。
3、稿件必須有較好的英語表達水平,有圖,有表,有公式,有數據或設計,有算法(方案,模型),實驗,仿真等;參考文獻控制25條以上,參考文獻引用一半以上控制在近5年以內。
圖片和圖表要求:1、建議使用TIFF、EPS、JPEG格式 ,TIFF格式 使用LZW壓縮。
2、文件大小最大不超過20MB,不要以單個文件的形式上傳數據。
3、彩色圖片的分辨率≥300dpi;黑白圖片的分辨率在≥500dpi;line art圖片類型的分辨率≥1000dpi;色彩模式建議采用RGB,除非期刊注明要CMYK。
4、線條不要細于0.25pt,也不能太粗,超過1.5pt,過細或過粗都影響美觀。
5、表格一般和manuscrript放置在一個word文檔里部分期刊 需要單獨上傳表格。
作者信息:1、包括作者姓名、最高學位,作者單位(精確到部門),郵箱,地址,郵編,關鍵詞,內容,總結,項目基金,參考文獻,作者相片+簡介(一定要確保作者信息準確無誤,提交稿件之后這部分不能再作改動)。
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中科院分區 2區
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中科院分區 2區
中科院分區 2區
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